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低压成套设备开关设备的型式试验所依据的标准是GB 7251.1-2013(IEC 61439-1：2011，IDT)和GB 7251.12-2013(IEC 61439-2:2011,IDT)。其中温升极限的验证是型式试验不可缺少的内容。
与旧版GB 7251.1-2005相比，新版标准通过验证方式取消了型式试验成套设备(TTA)和部分型式试验成套设备(PTTA)的区别，尤其是温升试验部分变化大。如GB 7251.1-2005中8.2.1.3中规定：进线电路通以额定分散系数，以此验证成套开关设备中各部件的温升极限是否超过标准中对该部件温升值的规定。
而新标准GB 7251.1-2013中9.2明确了“温升不应造成成套设备载流部件或相邻部件的损坏”为前提，即温升极限是以不超过成套设备内所使用材料的持续能力的工作温度来确定。新标准中确定了温升验证的方式可采用试验、类似方案额定数据的推导、计算等三种方式中的一种或多种进行。而通过试验验证的方法可根据功能单元、主母线、配电母线的布置不同分别采用方法a、方法b、方法c等三种方法，每种方法中又可应用不同的方案，在部件中通以额定电流验证成套设备中各部件的温升极限是否超过GB 7251.1-2013标准中表6对该部件温升值的规定，其目的是找出成套设备中最严酷的布置。新标准特别要求“试验需反复进行直到所有出线回路在其额定电流下均得到验证。”
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